光學(xué)儀器
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金相圖象分析系統(tǒng)MiFas | 光學(xué)儀器 | 送貨時(shí)間：48小時(shí)內(nèi) | |
| 標(biāo)準(zhǔn)價(jià)格：不詳 | OK17售價(jià)：洽詢 | |||
| 簡要說明：體視顯微鏡 XTZ-FG 技術(shù)規(guī)格： 1.目鏡筒： 三目鏡筒 傾角45° 瞳距和屈光度可調(diào) 2.物鏡筒： 360°定位 二側(cè)手輪調(diào)節(jié) 可接配大物鏡 3.放大倍率： 連續(xù)變倍：顯微鏡7～45×；圖像系統(tǒng)20～130× (可擴(kuò)展到 > 280×) 4.移動平臺： X-Y向移動范圍70×50 mm 帶玻璃載物臺 (附：磨砂玻璃 / 黑白板) 5.升降范圍： 120 mm 6.調(diào)焦范圍： 80 mm 7.照明系統(tǒng)： 上下可調(diào)光照明 鹵素?zé)?0W / 6V | ||||
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偏光顯微鏡XPV-25C | 光學(xué)儀器 | 送貨時(shí)間：48小時(shí)內(nèi) | |
| 標(biāo)準(zhǔn)價(jià)格：不詳 | OK17售價(jià)：洽詢 | |||
| 簡要說明：產(chǎn)品用途 XPV-25系列透反射偏光顯微鏡是利用光的偏振特性對具有雙折射性物質(zhì)進(jìn)行研究鑒定的必備儀器, 可供廣大用戶做單偏光觀察，正交偏光觀察，錐光觀察。廣泛應(yīng)用于地質(zhì)、化工、醫(yī)療、藥品等領(lǐng)域的研究與檢驗(yàn)，也可進(jìn)行液態(tài)高分子材料，生物聚合物及液晶材料的晶相觀察，是科研機(jī)構(gòu)與高等院校進(jìn)行研究與教學(xué)的理想儀器。 | ||||
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小負(fù)荷布氏硬度計(jì)HB-62.5型 | 光學(xué)儀器 | 送貨時(shí)間：48小時(shí)內(nèi) | |
| 標(biāo)準(zhǔn)價(jià)格：不詳 | OK17售價(jià)：洽詢 | |||
| 簡要說明：用 途 HB-62.5型小負(fù)荷布氏硬度計(jì)采用精密機(jī)械技術(shù)和光電技術(shù)的新型維氏硬度計(jì)。該機(jī)采用微機(jī)控制，通過軟件能調(diào)節(jié)測量光源的強(qiáng)弱，并能試驗(yàn)力保持時(shí)間，以LEG顯示。該機(jī)采用獨(dú)特的測量轉(zhuǎn)換和測微目鏡一次測量讀數(shù)機(jī)構(gòu)，使用方便，測量精度高。 | ||||
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視頻測量數(shù)顯顯微硬度計(jì)MHVS-2 | 光學(xué)儀器 | 送貨時(shí)間：48小時(shí)內(nèi) | |
| 標(biāo)準(zhǔn)價(jià)格：不詳 | OK17售價(jià)：洽詢 | |||
| 簡要說明：適用范圍:熱處理、碳化、淬火硬化層,表面覆層,鋼,有色金屬和微小及薄形零件等. | ||||
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視頻測量自動轉(zhuǎn)塔顯微硬度計(jì)MHV-2Z | 光學(xué)儀器 | 送貨時(shí)間：48小時(shí)內(nèi) | |
| 標(biāo)準(zhǔn)價(jià)格：不詳 | OK17售價(jià)：洽詢 | |||
| 簡要說明：適用范圍:熱處理、碳化、淬火硬化層,表面覆層,鋼,有色金屬和微小及薄形零件等.配備努氏壓頭后能測定玻璃、陶瓷、瑪瑙、人造寶石等較脆而又硬材料的努氏硬度. | ||||
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電腦全功能顯微硬度計(jì)HVST-2Z | 光學(xué)儀器 | 送貨時(shí)間：48小時(shí)內(nèi) | |
| 標(biāo)準(zhǔn)價(jià)格：不詳 | OK17售價(jià)：洽詢 | |||
| 簡要說明：適用范圍:熱處理、碳化、淬火硬化層,表面覆層,鋼,有色金屬和微小及薄形零件等.配備努氏壓頭后能測定玻璃、陶瓷、瑪瑙、人造寶石等較脆而又硬材料的努氏硬度. | ||||
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圖像處理數(shù)顯顯微硬度計(jì)HVST-2 | 光學(xué)儀器 | 送貨時(shí)間：48小時(shí)內(nèi) | |
| 標(biāo)準(zhǔn)價(jià)格：不詳 | OK17售價(jià)：洽詢 | |||
| 簡要說明：適用范圍:熱處理、碳化、淬火硬化層,表面覆層,鋼,有色金屬和微小及薄形零件等. | ||||
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圖像處理顯微硬度計(jì)HVT-2 | 光學(xué)儀器 | 送貨時(shí)間：48小時(shí)內(nèi) | |
| 標(biāo)準(zhǔn)價(jià)格：不詳 | OK17售價(jià)：洽詢 | |||
| 簡要說明：適用范圍:熱處理、碳化、淬火硬化層,表面覆層,鋼,有色金屬和微小及薄形零件等. | ||||
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HXD-1000T | 光學(xué)儀器 | 送貨時(shí)間：48小時(shí)內(nèi) | |
| 標(biāo)準(zhǔn)價(jià)格：不詳 | OK17售價(jià)：洽詢 | |||
| 簡要說明：儀器可以選配顯微硬度圖像處理系統(tǒng)，在細(xì)微距離進(jìn)行精密定位的多點(diǎn)測量、對表面處理后的硬化層(氧化層、滲層和鍍層) 作深層的測試與分析，并由計(jì)算機(jī)對圖像進(jìn)行各種處理、編輯、保存和輸出 (如打印等) 或進(jìn)入多媒體系統(tǒng)及電子信箱。 | ||||
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HX-1000TM/LCD | 光學(xué)儀器 | 送貨時(shí)間：48小時(shí)內(nèi) | |
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| 簡要說明：儀器免除了查表的麻煩，將測微目鏡測得的對角線長度輸入程序，即直接在LCD顯示屏顯示硬度值，并由內(nèi)置打印機(jī)打印測量數(shù)據(jù)：最大值，最小值，分散度，平均值和均方差等。 | ||||
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HX-1000TM | 光學(xué)儀器 | 送貨時(shí)間：48小時(shí)內(nèi) | |
| 標(biāo)準(zhǔn)價(jià)格：不詳 | OK17售價(jià)：洽詢 | |||
| 簡要說明：儀器可以選配顯微硬度圖像處理系統(tǒng)，在細(xì)微距離進(jìn)行精密定位的多點(diǎn)測量、對表面處理后的硬化層(氧化層、滲層和鍍層) 作深層的測試與分析，并由計(jì)算機(jī)對圖像進(jìn)行各種處理、編輯、保存和輸出 (如打印等) 或進(jìn)入多媒體統(tǒng)及電子信箱。 | ||||
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HVS-1000 | 光學(xué)儀器 | 送貨時(shí)間：48小時(shí)內(nèi) | |
| 標(biāo)準(zhǔn)價(jià)格：不詳 | OK17售價(jià)：洽詢 | |||
| 簡要說明：主要特點(diǎn)： 采用無摩擦主軸結(jié)構(gòu)，確保試驗(yàn)力穩(wěn)定，測試精度高。 采用微機(jī)技術(shù)、角位移傳感技術(shù)于一體，實(shí)現(xiàn)試驗(yàn)過程、 硬度值顯示、數(shù)據(jù)打印自動化。 | ||||
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紫外可見分光光度計(jì)S53/S54 | 光學(xué)儀器 | 送貨時(shí)間：48小時(shí)內(nèi) | |
| 標(biāo)準(zhǔn)價(jià)格：不詳 | OK17售價(jià)：洽詢 | |||
| 簡要說明：特 點(diǎn)： ◆微機(jī)自動，C-T光路，2nm帶寬（S54） ◆外型小巧、簡潔、現(xiàn)代化 ◆特低雜散光，優(yōu)秀的紫外測光精度 ◆設(shè)有RS233C串行口及并行打印口 ◆可選配專用軟件包，連接PC機(jī)后可擴(kuò)展波長掃描、多點(diǎn)線性回歸、1-3階曲線擬合等功能 ◆重量不超過9kg | ||||
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近紅外分光光度計(jì)S410 | 光學(xué)儀器 | 送貨時(shí)間：48小時(shí)內(nèi) | |
| 標(biāo)準(zhǔn)價(jià)格：不詳 | OK17售價(jià)：洽詢 | |||
| 簡要說明：特 點(diǎn)： ◆標(biāo)準(zhǔn)RS232串行接口，可與PC機(jī)直接相連，應(yīng)用軟件界面簡單易于上手 ◆建模分析過程簡單快速 ◆實(shí)現(xiàn)對標(biāo)物的快速無損檢測 ◆具有強(qiáng)大的建模分析軟件 ◆石油烷值、抗暴系數(shù)、EP值等的定量定性分析應(yīng)用，整個(gè)分析過程只需1分種 | ||||
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熒光分光光度計(jì) | 光學(xué)儀器 | 送貨時(shí)間：48小時(shí)內(nèi) | |
| 標(biāo)準(zhǔn)價(jià)格：不詳 | OK17售價(jià)：洽詢 | |||
| 簡要說明：熒光分析法比紫外－可見分光光度法靈敏度高 2 ～ 3 個(gè)數(shù)量級，能提供激發(fā)光譜、發(fā)射光譜、發(fā)光強(qiáng)度、發(fā)光壽命、量子產(chǎn)率、熒光偏振等許多信息，工作曲線線性范圍寬，已成為一種重要的痕量分析方法。可廣泛應(yīng)用于：醫(yī)學(xué)合臨床檢驗(yàn)中的生物體試料的臨床分析；藥學(xué)和藥理學(xué)中的天然藥物分析、藥品質(zhì)量控制和藥物代謝的研究；生物化學(xué)中的生物體內(nèi)微量物質(zhì)的測定；食品工業(yè)中的食品中根兩組分的測定；環(huán)保部門的大氣污染、環(huán)境衛(wèi)生、食品污染物研究；有機(jī)和無機(jī)化學(xué)中用吸光光度法不能測定的痕量組分分析等。 | ||||
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