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錫晶 xijing薄膜測厚儀 CH-1-S
  • 儀器名稱：薄膜測厚儀
  • 儀器品牌：錫晶 xijing
  • 儀器型號：CH-1-S
  • 送貨時間：48小時內(nèi)
  • 標(biāo)準(zhǔn)價格：不詳
  • 本站售價：洽詢
  • 關(guān)鍵參數(shù)：CH-1-S型薄膜測厚儀 適用于機械測量法測定塑料薄膜和薄片的厚度（不適用于壓花的薄膜和薄片）,量程：0-1mm　分度值：0.001mm.上測頭曲率半徑：15-50mm.測頭對試樣施加負荷我：0.1-0.5N.測量精度：100vm以內(nèi)＜1vm/100-250vm＜2vm/250vm＜3vm
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性能參數(shù)介紹

下載說明

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產(chǎn)品介紹

CH－1－S型薄膜測厚儀

 

技術(shù)要求和特點：

 

一、 概述
   本測厚議適用于機械測量法測定塑料薄膜和薄片的厚度（不適用于壓花的薄膜和薄片）。本測厚儀執(zhí)行GB-T6672-2001標(biāo)準(zhǔn)。

二、主要參數(shù)
   1. 量程：0-1mm　分度值：0.001mm
   2. 上測頭曲率半徑：15-50mm
   3. 測頭對試樣施加負荷我：0.1-0.5N
   4. 測量精度：100vm以內(nèi)＜1vm
                100-250vm＜2vm
                 250vm＜3vm

 

電源標(biāo)準(zhǔn)

  無

標(biāo)準(zhǔn)配置

CH-1-S型薄膜測厚儀 主機一套 說明書一份。

可選附件

         無

標(biāo)準(zhǔn)證書

      執(zhí)行GB-T6672-2001標(biāo)準(zhǔn)。